惠普(HP) 4284A LCR电桥

产品描述： HP 4284A 经典高精度精密 LCR 测试仪，专门用于电阻、电容、电感等无源元器件、电子新材料与半导体器件阻抗特性检测，完全兼容 IEC、MIL 通用行业测试标准，广泛用于研发实验室来料检测、生产线批量分选与成品质量管控，是元件测试领域标杆机型。设备测量基础精度高达 0.05%，搭配 6 位高清读数显示，可精准捕捉元器件微小参数差异；测试频率区间 20Hz～1MHz，内置 8610 个可选频点，可模拟器件真实工作工况完成测量。整机可输出阻抗、电感、电容、电阻、损耗、品质因数等 20 余项测量参数，覆盖全品类元器件测试需求。支持恒压、恒流双激励模式，可选配模块实现 20Vrms 交流高压、40V 直流偏置输出，适配半导体、高压元器件特殊测试；标配开路、短路、负载补偿功能，消除夹具线缆寄生参数带来的测量误差。搭载列表扫描、多档位比较分选功能，适合产线自动化批量检测；四端对测试端口抑制引线干扰，高低阻抗元件均可稳定测量。配备多模式可调触发与 GPIB 程控接口，可接入自动测试系统，整机环境适应性强，可 7×24 小时持续稳定运行，凭借超高测量精度、丰富测试功能、宽频率覆盖与便捷程控集成能力，成为元件研发、生产、质检场景的核心精密测量设备。 产品特点： 1.超高精密测量性能 基础测量精度 0.05%，6 位高分辨率读数，精准分辨元器件微小参数偏差，满足计量、研发级高精度检测需求。 2.宽频多点测试覆盖 测试频率 20Hz~1MHz，提供 8610 个自定义频点，可模拟器件实际工作频率开展仿真测试。 3.20 项完整元件参数测量 支持阻抗、导纳、R/L/C、品质因数 Q、损耗 D 等全套无源器件参数检测，适配电阻、电容、电感、半导体材料等各类样品。 4.灵活激励，支持高压偏置测试 恒压、恒流两种测试信号模式自由切换；选配附件可输出 20Vrms 交流信号、40V 直流偏置，拓展高压元器件、半导体测试场景。 5.三重补偿消除测量误差 集成开路补偿、短路补偿、负载补偿功能，抵消测试夹具、连接线寄生电感电容干扰，大幅提升测量准确度。 6.产线批量分选功能完善 支持最多 10 组频点 / 电平列表自动扫描；内置十档位比较分选功能，自动区分元器件合格 / 不合格，提升产线检测效率。 7.四端对测量端口，抗引线干扰 标准四端对测试接口，弱化线缆引线阻抗影响，高阻、低阻元器件均可保持稳定测量精度。 8.多触发模式，适配多仪器联动 内置内部、外部、总线、手动多种触发方式，触发延时可自定义，方便多台测试设备同步协同测量。 9.标准化程控通讯接口 标配 GPIB 通用总线接口，可外接扫描器、工控设备，支持远程程控控制，快速搭建自动化 ATE 测试系统。 10.工业级稳定耐用 温湿度适应范围广，整机运行稳定可靠，可长时间不间断连续作业，适配工厂产线与实验室长期使用。