圣德科(Santec) TSL-550 可调谐激光器

一、整机基础信息 品牌：Santec 圣德科（日本光子仪器厂商） 完整型号：TSL-550 1500-1630-C 品类：C 波段窄线宽无跳模可调谐激光光源 波段定义：1500–1630nm CL 通信波段（覆盖 C/L 主流光通信窗口） 后缀 C：高精度波长计内置机型，绝对波长精度 ±5pm 二、核心关键参数 波长指标（1500-1630nm C 版） 调谐区间：1500 ~ 1630 nm 波长分辨率：0.1 pm 绝对波长精度：±5 pm（C 型高精度，A 型仅 ±20pm） 波长重复性：±2 pm 长期波长稳定性：±1 pm/24h 无跳模连续扫描，扫描速度 1~100 nm/s 可调 输出光功率 峰值输出功率：≥+13 dBm 全波段最低输出：≥+10 dBm 功率重复性：±0.01 dB 功率可调范围：0 ~ -60 dB 连续衰减 光谱噪声性能 ASE 信噪比：＞90 dB/0.1nm 线宽＜100 kHz，单纵模输出，适合相干、干涉测试 硬件与接口 正面高清数字显示屏，同步显示波长、输出功率、扫描参数 标配 USB、GPIB 程控接口，SCPI 标准指令，适配自动化 ATE 产线 输出光纤标准 FC/APC，可选 LC 接头 台式紧凑型机箱，1U 半机架尺寸，可机架安装 三、C 型版本核心优势 内置高精度波长校准模块，无需外接波长计，测试系统精简 ±5pm 超高波长精度，DWDM 滤波器件、硅光微环谐振腔精密测试标配 全波段高功率输出，多通道无源器件、高损耗光纤链路测试无需光放大 极低 ASE 噪声，测量插损、PDL、WDL 时底噪干扰极小 支持相干控制、波长微扰扫描，适配干涉仪、光纤传感科研实验 四、典型应用场景 光无源器件：DWDM/CWDM 滤波器、光栅、耦合器、隔离器插损 / 波长相关损耗 WDL、偏振相关损耗 PDL 批量测试 硅光芯片、微环谐振腔、集成光子器件光谱表征 相干光通信、干涉测量、光纤传感实验室精密实验 光模块、WSS 波长选择开关研发与出厂质检 自动化扫描测试系统，搭配光功率计、偏振控制器完成一站式器件检测一、整机基础信息 品牌：Santec 圣德科（日本光子仪器厂商） 完整型号：TSL-550 1500-1630-C 品类：C 波段窄线宽无跳模可调谐激光光源 波段定义：1500–1630nm CL 通信波段（覆盖 C/L 主流光通信窗口） 后缀 C：高精度波长计内置机型，绝对波长精度 ±5pm 二、核心关键参数 波长指标（1500-1630nm C 版） 调谐区间：1500 ~ 1630 nm 波长分辨率：0.1 pm 绝对波长精度：±5 pm（C 型高精度，A 型仅 ±20pm） 波长重复性：±2 pm 长期波长稳定性：±1 pm/24h 无跳模连续扫描，扫描速度 1~100 nm/s 可调 输出光功率 峰值输出功率：≥+13 dBm 全波段最低输出：≥+10 dBm 功率重复性：±0.01 dB 功率可调范围：0 ~ -60 dB 连续衰减 光谱噪声性能 ASE 信噪比：＞90 dB/0.1nm 线宽＜100 kHz，单纵模输出，适合相干、干涉测试 硬件与接口 正面高清数字显示屏，同步显示波长、输出功率、扫描参数 标配 USB、GPIB 程控接口，SCPI 标准指令，适配自动化 ATE 产线 输出光纤标准 FC/APC，可选 LC 接头 台式紧凑型机箱，1U 半机架尺寸，可机架安装 三、C 型版本核心优势 内置高精度波长校准模块，无需外接波长计，测试系统精简 ±5pm 超高波长精度，DWDM 滤波器件、硅光微环谐振腔精密测试标配 全波段高功率输出，多通道无源器件、高损耗光纤链路测试无需光放大 极低 ASE 噪声，测量插损、PDL、WDL 时底噪干扰极小 支持相干控制、波长微扰扫描，适配干涉仪、光纤传感科研实验 四、典型应用场景 光无源器件：DWDM/CWDM 滤波器、光栅、耦合器、隔离器插损 / 波长相关损耗 WDL、偏振相关损耗 PDL 批量测试 硅光芯片、微环谐振腔、集成光子器件光谱表征 相干光通信、干涉测量、光纤传感实验室精密实验 光模块、WSS 波长选择开关研发与出厂质检 自动化扫描测试系统，搭配光功率计、偏振控制器完成一站式器件检测