一、产品概述
2606B 属于 2600B 系列1U 机架式四通道高密度系统源测量单元（SMU），单台 1U 机箱集成四路独立 20W SMU 通道，通道性能对标 2602B，大幅提升机架通道密度。搭载 TSP 内置脚本处理器，支持多机 TSP-Link 扩展并行测试，专为产线大批量半导体、光电器件并行测试设计，有效节省机柜空间，降低多通道测试系统搭建成本。
二、核心技术参数
✅ 单通道通用规格（4 通道相互独立）
电压范围：±20.2 V
直流电流：±3.03 A；功率包络：20.2 V@1 A、6.06 V@3.03 A
单通道直流最大功率：20.2 W
测量分辨率：电压 100 nV；电流低至 100 fA
四象限源 / 负载双向工作
通道硬件同步触发，支持多通道同步扫描
三、关键特性
1U 超薄机架结构，4 路独立 SMU 集成，通道密度相比传统 2U 双通道源表提升 3 倍；设备堆叠无需预留散热间距
内置 TSP 测试脚本处理器，本地运行测试程序，提升产线吞吐量；支持 TSP-Link 总线级联，最多扩展至 64 条通道
6½ 位高精度测量，最高 20000 读数 / 秒，适配高速并行 I-V 测试
通讯接口：LAN (LXI)、USB2.0；配备 25Pin 数字 I/O、Phoenix 模拟输出端子
配套软件：KickStart 免编程测试软件、TSP Express 脚本工具
指令兼容 2602B，原有测试程序可便捷迁移；内置过压、过流、过温保护
支持常规负载模式与大电容负载模式，适配电容型器件测试
四、典型应用场景
LED、Mini/Micro LED 阵列并行测试
激光二极管、VCSEL 批量 LIV 产线并行测试
二三极管、MOSFET 等分立半导体多器件同步 I-V 测试
光电传感器阵列、光耦批量电学检测
自动化 ATE 多通道并行测试系统，高密度机柜产线方案
