设备简介：National Instruments PXIe‑4141 是基于PXI Express总线的四通道高精度源测量单元（SMU），属于高密度精密可编程源测电源模块，单槽位集成四路独立可控源测通道，支持四象限源载一体工作模式。模块具备微伏/纳安级超高测量分辨率、超低本底噪声、四线远程传感精准补偿能力，搭配SourceAdapt瞬态响应自适应技术，兼顾测试稳定性与响应速度，专为高引脚数器件、微功耗芯片、传感器阵列、精密模拟电路的多通道并行电性测试设计，广泛用于半导体参数验证、ATE自动化量产测试、微电路可靠性测试、精密科研测试系统集成。
一、核心输出与电气量程
- 通道配置：4通道完全独立可控设计，单PXIe单槽位集成，四路通道可同步/异步独立工作，互不干扰，适配多通道并行批量测试
- 电压输出范围：±10V全域连续可编程输出，正负电压精准可调，适配低压精密微功耗器件、模拟芯片、传感器供电与电性测试
- 电流输出能力：单通道±100mA稳态输出，支持纳安级微小电流精细调节，可精准覆盖微弱漏电、微功耗静态电流测试场景
- 功率承载能力：单通道最大吸收功率1W，支持四象限能量双向流动，既可精密输出供电，也可吸收负载回馈能量
- 工作模式：支持恒压(CV)、恒流(CC)自动切换，四象限源载一体化工作，满足器件稳态供电、动态负载特性双重测试需求
二、精度与动态性能指标
- 超高测量精度：搭载高精度ADC采样架构，电压微伏级、电流纳安级分辨率，全量程线性度优异，长期测试无漂移，满足精密器件标定标准
- 四线传感补偿：每通道集成远程四线检测功能，自动消除引线电阻、接触电阻误差，大幅提升低压小信号测试精准度
- 自适应瞬态响应：内置SourceAdapt技术，可自适应匹配负载特性，平衡输出稳定性与动态响应速度，杜绝轻载振荡、信号失真问题
- 低噪声特性：优化精密滤波电路设计，输出纹波与本底噪声极低，可稳定适配微弱信号器件测试，无信号干扰
- 时序同步性能：支持PXIe Gen3高速总线与背板硬件触发，多通道、多模块亚纳秒级时序同步，适配高精度联动自动化测试流程
