产品描述
General Photonics PDL-201 偏振相关损耗测试仪采用专利最大/最小值搜寻法（符合TIA/EIA-455-198标准），能够在30毫秒内同时测量器件的偏振相关损耗（PDL）、插入损耗（IL）和光功率。与扰偏法相比，该技术能系统性地搜索最大和最小透过率，确保高、低PDL值器件在任何时刻的测量精度，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法的测量更准确。适用于DWDM器件、光纤传感元件等无源器件的快速精确表征。
主要特点
超快测量速度：30 ms完成单次测量（输入功率>-30 dBm）
宽波长范围：覆盖1260~1620 nm，无需波长校准
高测量精度：PDL精度±(0.01 + 5% PDL) dB，分辨率0.01 dB
大动态范围：PDL和IL动态范围均为0~45 dB
模拟电压输出：0~4V PDL监控电压，便于系统集成
高亮OLED显示屏：提供清晰直观的读数显示
丰富通信接口：USB、以太网、RS-232、GPIB，支持远程控制
功率计功能：集成光功率测量，精度±0.25 dB 产品描述
General Photonics PDL-201 偏振相关损耗测试仪采用专利最大/最小值搜寻法（符合TIA/EIA-455-198标准），能够在30毫秒内同时测量器件的偏振相关损耗（PDL）、插入损耗（IL）和光功率。与扰偏法相比，该技术能系统性地搜索最大和最小透过率，确保高、低PDL值器件在任何时刻的测量精度，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法的测量更准确。适用于DWDM器件、光纤传感元件等无源器件的快速精确表征。
