捷迪迅(JDSU)mOSW-C142X002PS-M100-MFA光开关模块

品牌:捷迪迅(JDSU)
名称:捷迪迅(JDSU)mOSW-C142X002PS-M100-MFA光开关模块
型号:mOSW-C142X002PS-M100-MFA
成色:二手
发货时间:5天
保修时间:30天
是否计量:否
电议

产品详情

一、设备整体概述

JDSU(现 VIAVI)mOSW‑C142X002PS‑M100‑MFA 属于 MAP‑200/220C/230/280 平台 mOSW‑C1 系列 MEMS 光开关插拔模块,**1×42 单模光开关模块**,MFA 代表 FC‑APC 接头尾纤输出;模块不能独立工作,插入 MAP 系列机箱,用于自动化测试系统多路光路切换,实现单路输入切换至 42 路输出端口,原厂已停产。

二、核心光学规格

- 架构:1×42 MEMS 光开关模块

- 工作波长:1250‑1650 nm(S‑C‑L 单模波段)

- 插入损耗 IL:典型 0.6 dB,最大 1.0 dB

- 偏振相关损耗 PDL:最大 0.04 dB

- 切换重复性:±0.005 dB

- 回波损耗:≥55 dB

- 串扰隔离度:≥‑80 dB

- 最大输入光功率:300 mW

- 切换时间:典型约 400 ms(1×42 端口),稳定时间约 120 msVIAVI Solu...

- 机械寿命:≥1 亿次切换循环VIAVI Solu...

- 光接口:MFA=FC‑APC 尾纤

- 占用规格:MAP 平台单槽模块

- 工作温度:0‑50 ℃VIAVI Solu...

三、核心功能亮点

1 MEMS 1×42 大规模端口光路切换,单输入可选通 42 路输出,实现 DUT 多路器件并行自动化测试,节省光源、光谱仪、功率计硬件数量

2 极低 PDL、高切换重复性,最大程度降低开关引入的测试误差,保障 IL、PDL 光谱扫描测量精度

3 兼容 MAP 机箱 SCPI 指令,支持端口轮询、自动扫描、端口状态读取;支持 PTRIM 功率校正选件

4 多块 mOSW‑C1 模块可同时上机,扩展上百个测试通道,适合多通道 DWDM、PLC、耦合器批量产线测试

5 协议透明,对光信号格式无影响,兼容连续光、ASE 宽带光源、调制光信号

6 模块无独立控制,由 MAP 机箱统一管理,无缝接入自动化 ATE 测试系统

四、接口、程控与机械

- 适配主机:MAP‑200、MAP‑220C、MAP‑230、MAP‑280 多应用测试平台机箱

- 程控:模块无独立通信,机箱通过 LAN、GPIB 执行 SCPI 指令,适配 LabVIEW、TestStand、Python 自动化程序

- 光学接口:FC‑APC(MFA)尾纤输入输出

- 机械:MAP 平台单槽插拔模块,直接插入机箱插槽

五、典型应用测试场景

1 PLC、AWG、耦合器、多通道 DWDM 器件多路端口自动化光路切换测试

2 光器件产线批量测试,单套光源 / 仪表分时轮询多个 DUT 通道

3 探针台、屏蔽腔内多路被测器件光路选通

4 宽带光源、可调激光器输出多路分配切换

5 光通信自动化 ATE 测试系统多路光路切换单元