EXFO(EXFO) IQS-3200 光回损模块

产品详情

EXFO IQS-3200 光回损测试模块，属于 IQS 模块化光测试平台插卡，用于测量光器件与光纤链路的光回损及反射率，低漂移设计，测量精度高，适合光无源器件产线检测与实验室器件性能验证，支持自动化测试集成。

主要参数

测量动态范围 0 至 - 80dB

测量精度 ±0.35dB

波长覆盖 1250nm 至 1630nm

分辨率 0.001dB

低偏振敏感度

插卡式模块化设计

适配 EXFO IQS 系列主机