产品求购

回收 吉时利 4200A-SCS 半导体分析仪

吉时利(Keithley)
浏览量:2
更新时间:2025-11-11

产品详情

吉时利(Keithley)4200A-SCS 是一款高性能模块化半导体参数分析仪,专为半导体器件、材料和工艺的电气特性测试设计。以下是其核心信息整理:

一、核心功能与技术参数

多模态测量能力

直流 I-V 测量:支持 ±210V 电压范围,电流分辨率达 10aA(需选配前置放大器),精度 ±0.015%(典型值)。

电容 - 电压(C-V)测量:频率范围 1kHz-10MHz,电容分辨率达 1fF,支持差分偏置(±60V)和超低频 C-V(0.1mHz)测试t。

超快速脉冲 I-V 测量:双独立通道,采样率 200MSa/s,脉冲宽度最短 5ns,支持动态电阻、自加热效应分析。

模块化架构

支持最多 9 个源测量单元(SMU),可灵活配置为中等功率(4200-SMU)或高功率(4210-SMU,1A 电流)模块。

新增 4201-SMU/4211-SMU 模块,在高电容系统(如 1μF)中仍能实现稳定低电流测量,解决传统 SMU 的动态响应问题。

先进分析与自动化

Clarius+ 软件套件:内置 450+ 预配置测试模板(如 MOSFET 栅极电荷、1/f 噪声分析),支持 Python 编程、实时数据可视化及参数提取(如阈值电压 Vth、界面态密度 DIT)。

多通道同步:通过 4200A-CVIV 开关模块自动切换 I-V 与 C-V 测量,无需手动重新布线,支持 4 通道并行测试。

二、应用领域

半导体器件研发与生产

晶体管(CMOS、SiC MOSFET、GaN HEMT)、存储器件(闪存、相变存储器)、功率器件的 IV/CV 特性分析。

晶圆级可靠性测试(WLR),如 NBTI、TDDB、热载流子注入(HCI)等退化机制研究。

材料科学与纳米技术

二维材料(石墨烯、MoS₂)、有机半导体、光伏材料的低电流(pA 级)和高频(MHz)电学表征。

生物传感器(BioFET)的实时动态响应测试,支持多 SMU 同步激励与测量。

工业自动化测试

集成到量产测试系统,支持与探针台、温度控制器(如 Lakeshore 336)无缝协同,实现全自动化参数筛选。

三、性能优势

高精度与低噪声

电流噪声本底低至 200pA(PMU 模块,10V 量程),支持 10aA 级超微弱电流测量,适用于栅极漏电、纳米器件表征。

电容测量精度达 ±0.1%(1MHz,10pF),配合 4215-CVU 模块可实现 1V AC 激励下的高分辨率 C-V 测试。

灵活性与扩展性

支持现场升级模块(如 PMU、CVU),无需返厂,降低停机成本。

兼容多种第三方设备(如 Cascade Microtech 探针台),通过 TSP-Link 技术实现多仪器同步触发。

易用性与培训支持

内置多语言(中、英、日、韩)教学视频和应用指南,新用户可快速上手。

提供预配置测试脚本,如 JEDEC 标准栅极电荷测量(Qgd),减少编程工作量泰克科技有限公司


更多求购