D8 DISCOVER是一款多功能X射线衍射仪，专为在环境条件和非环境条件下对各种材料进行结构表征而设计。它配备多种前沿技术组件，适用于定性相分析、定量相分析、结构测定、微应变和微晶尺寸分析等多种应用，涵盖粉末、薄膜、多层样品等材料。D8 DISCOVER支持多种分析技术，如掠入射衍射、X射线反射率测量、高分辨率X射线衍射等，适用于材料研究、薄膜分析等领域。该设备具备高通量筛选能力和灵活的样品台设计，能够满足复杂和高要求的实验需求。
D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。
应用范围：
定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）
总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）
薄膜分析
X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：
掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。
X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
应力和织构（择优取向）分析。
