波长性能
全波段覆盖：1240 ~ 1680nm，分段可选：Ext O/O/ES/Ext ES/SCL/C+L/U 波段
波长分辨率：0.1 pm（行业顶级）
精细微调范围：±100 pm（0.01pm 步进），也支持 10GHz 大范围细调
扫描速度：1 ~ 200 nm/s（上代 TSL550 最高 100nm/s，速度翻倍）
密封无跳模外腔，全波段连续调谐无断光
2. 输出功率与噪声（核心优势）
标准 A/C/P 型最大输出：＞+13 dBm，全波段＞+10 dBm，边缘波段最低＞+7 dBm
功率动态衰减：30dB，调节步进 0.01dB；功率稳定度 ±0.01dB
光谱信噪比 SNR：≥90 dB/0.1nm，极低 ASE 噪声
边模抑制 SMSR：典型≥45dB
相对强度噪声 RIN：≤-145 dB/Hz（1MHz–3GHz）
内置相干度控制 Coherence Control，抑制干涉纹波
光纤：标配 SMF 单模；可选 PM 保偏光纤；接头 FC/APC、SC/PC 可选
3. 控制与通讯接口
标配：触摸屏、USB、GPIB、以太网（支持 WoL 远程唤醒）
指令集：标准 SCPI，完美自动化测试系统
扫描模式：单次 / 连续 / 外部触发同步扫描
内置光功率监控端口，实时读取输出功率
四、型号命名举例
TSL-570-P-500630-S-F-AP
P = 超高精度；500630=C+L 波段 1500–1630nm；S = 单模光纤；F=FC；AP=APC 端面
五、典型应用场景
CPO / 硅光 / 光子集成芯片 WDL、PDL、损耗测试（优先 P/U 型）
800G/1.6T 光模块、LAN-WDM、DWDM 滤波器、WSS、光栅高精度测试
光纤传感、干涉光谱、量子光学精密实验
高速自动化产线扫描测试（200nm/s 大幅缩短测试时间）
高损耗器件、无源耦合器件大功率测试（H/U 型）
补充对比：TSL510 / TSL550 / TSL570 关键差异
屏幕：510/550 按键屏，570 触控屏；
扫描速度：510 最高 100nm/s，550 最高 100nm/s，570 最高 200nm/s；
最高精度：510±5pm，550±5pm，570 最高 ±2pm (Type P)；
功率上限：510/550 最大 + 13dBm，570 可到 + 20 (H)/+25dBm (U)；
接口：570 新增以太网远程唤醒，自动化更友好
