Dimension XR系列扫描探针显微镜集成了纳米力学、电学和电化学等领域的尖端技术，提供独特的功能模块，简化了空气、液体或电化学环境下的材料和纳米系统的定量表征。其AFM-nDMA功能可在纳米尺度上研究聚合物样品的流变性能，提供精确的粘弹性分析。此外，该系统还具备数据立方体模式，能够执行高速数据捕获和多参数测量，实现全面表征。Dimension XR系统采用峰值力轻敲技术，确保高分辨率成像，并扩展到电化学领域，以纳米级空间分辨率表征电化学过程。
Dimension XR系列扫描探针显微镜仪器，集成了过去几十年的研究和技术创新经验，为纳米力学、电学、电化学等先进研究领域的表征工作提供了独有的功能模块方案，使得对空气、液体或电化学环境里的材料和纳米 系统的定量表征更加简便。
AFM -nDMA
AFM 首次可以在纳米尺度上研究聚合物样品在流变性相关频率线性区域的性能，提供完整的定量粘弹性分析。专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率追踪技术在流变相关的0.1 Hz至20 kHz频率范围内进行小应变测量，获得与宏观DMA分析相符的存储模量、损耗模数和损耗角正切值等性质。
