成色要求：6-7 成新，无划痕 / 无磨损 / 外观轻微使用痕迹，二手。
基础配置：包好，有质保。
仪器介绍：基于 OFDR 光频域反射技术的一体化光器件测试设备，支持反射、透射双模式测量，可同步完成插入损耗 IL、回波损耗 RL 分布式分析、光路长度精准测算。采样分辨率 20μm，扫描速率 12Hz，最大测试光纤长度反射模式 500m、透射模式 1000m，回损动态范围 70dB，工作波长 1546.69±20nm。单台设备即可识别光路内部所有反射缺陷点，亚皮秒级精度测量光路斜差 skew，适配 PLC 平面波导、AWG 阵列波导光栅、光滤波器、光纤光栅、特种光纤、光子集成电路 PIC、硅光芯片自动化产线质检与实验室研发表征。
