布鲁克光学轮廓仪ContourX-100是一款高精度非接触式表面计量设备，集成了布鲁克公司的WLI技术创新。该系统具备2D/3D高分辨率测量能力，拥有先进的用户界面和多种预编程滤镜及分析工具，适用于精密加工、表面粗糙度和RDL先进封装工艺厚度测试。新功能包括五百万像素摄像头、新型载物台和测量模式，提升了系统的灵活性和稳定性。ContourX-100能够应对广泛的标准（如ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287）分析需求，为实验室和工厂车间提供高效的计量解决方案。
布鲁克光学轮廓仪ContourX-100为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。
该小尺寸系统采用流线型设计,结合了数十年专有的布鲁克白光干涉仪(WLI)创新,可提供2D / 3D高分
辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有先进的友好用户界面，可直观访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦学应用分析，可用于表面粗糙度，RDL先进封装工艺厚度等测试。
新一代增强功能包括新的五百万像素摄像头,新的载物台和新的测量模式,提供了更大的灵活性。
快速、可重复的三维计量
■与 放大倍率无关的Z轴分辨率
■大尺寸的标准 视场
■高稳定性和重复性的集成防震设计
卓越的测量和分析功能
■易于使用的界面， 可快速准确地获得结果
■广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析
■满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
计量功能
布鲁克光学轮廓仪ContourX-100是布鲁克在非接触表面计量、表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和作为的结晶。该系统结合三维白光干涉和二维成像技术在单次测量中实现多种分析。
布鲁克光学轮廓仪ContourX-100对于反射率从0.05%到百分一百的各种表面都非常易于测量。
