设备租售
安捷伦(Agilent) 33500B 函数信号发生器
一、基础信息 系列全称：33500B Series，原安捷伦，现归属是德科技 Keysight 机型分类：包含多款子型号（33509B/33510B/33519B/33520B/33521B/33522B 等） 类型：Trueform 技术函数 + 任意波形发生器 带宽规格：20MHz、30MHz 两类，分单通道、双通道机型 二、核心硬件参数 采样速率：250 MSa/s 垂直分辨率：16bit 标配存储：每通道 1 MSa，可升级至 16 MSa 输出幅度：50Ω 负载 1mVpp～10Vpp；高阻 2mVpp～20Vpp 输出阻抗：标准 50Ω 脉冲抖动：周期 - 周期典型＜40ps rms 三、波形与调制功能 标准波形：正弦、方波、三角波、斜波、噪声、直流、PRBS 伪随机码 调制类型：AM、FM、PM、FSK、PWM；支持信号叠加、双音信号 扫描模式：线性 / 对数频率扫描、幅度扫描、突发 Burst 输出 任意波形：支持 512 段波形序列播放，可导入外部自定义波形 四、通讯与操作特性 显示：4.3 英寸彩色液晶显示屏 标配接口：USB、LAN (LXI-C)、GPIB，支持 SCPI 程控 双通道机型功能：通道耦合、独立相位调节、相位偏移输出 适用场景：实验室电路研发、传感器测试、产线自动化测试、元器件特性验证 五、补充说明 采用 Trueform 波形生成技术，相比传统 DDS 谐波失真更低 全带宽脉冲输出，上升沿、下降沿可独立设置 现已停产，市面流通多为二手仪器
安捷伦(Agilent) N5980A 误码仪
一、基础信息 全称：3.125 Gb/s 生产型串行误码仪，原安捷伦，现归属是德科技 Keysight 设备定位：面向光模块、高速串行收发器产线自动化测试 产品状态：原厂已停产，市面上流通以二手设备为主 二、核心速率与电气规格 测试速率：125 Mb/s ~ 3.125 Gb/s，速率精度 ±50 ppm 电信号接口：3.5mm 差分 SMA；输入幅度 50 mVpp～2 Vpp，支持 LVDS、ECL 电平 光接口：搭载 SFP 插槽，可插拔光模块（850/1310/1550nm） 三、码型与测试功能 支持码型：标准 PRBS 序列、K28.5 逗号码、分频时钟（/2～/20） 误码注入：单次误码注入、可设定比率持续误码注入 内置 CDR 时钟数据恢复；支持选通模式误码统计，显示误码总数、实时 BER 误码率 四、控制与应用特性 通讯方式：USB2.0 连接上位机软件，支持 SCPI 程控指令，适配自动化产线 测试模式：光电通道可同时工作，实现电入光出 / 光入电出，提升测试吞吐量 适用场景：千兆光模块、光纤通道、SDH/SONET、高速串行收发器生产测试
惠普(HP) 4284A LCR电桥
一、基础信息 型号：4284A（早期 HP 惠普标识，后续更名安捷伦 Agilent，现归属是德科技 Keysight） 设备类型：台式精密 LCR 阻抗分析仪 / LCR 电桥 产品状态：原厂已停产，市面流通以二手仪器为主 机箱规格：标准机架式机箱，支持机柜安装 二、核心电气参数 测试频率：20 Hz～1 MHz，内置 8600 余个可选频点 基础测量精度：±0.05%，6 位数字分辨率 阻抗测量范围：0.01 mΩ ～ 100 MΩ 标准测试信号：5 mV～2 Vrms；选件 001 拓展至 5 mV～20 Vrms 内置直流偏置：最高 40 V 直流偏置电压，可外接 42841A 实现大电流直流偏置 测量模式：串联 / 并联等效模式自由切换 三、测量参数 基础参数：L 电感、C 电容、R 电阻、Z 阻抗、Y 导纳 衍生参数：X 电抗、B 电纳、D 损耗因子、Q 品质因数、相位角 θ 四、功能特性 列表扫描测量，支持频率 / 电平 / 偏置自动扫描 内置比较器分选功能，元件批量良率筛选 四端测试结构，降低引线电阻误差，适合小阻抗元器件 标配 GPIB 接口，支持 SCPI 程控指令，适配自动化产线 ATE 系统 支持恒定电压 / 恒定电流激励模式 五、典型应用场景 电容、电感、电阻无源元器件来料检测、产线测试 半导体器件 C-V 特性测试（MOS 管、二极管） 压电材料、介电材料电学特性分析 开关电源功率电感、高频元件特性评估
吉时利 4200-SMU 中等功率源测量单元
一、基础信息 型号：4200-SMU 设备类型：插入式中等功率 SMU 源测量模块 适配主机：吉时利 4200-SCS / 4200TM 半导体参数分析仪机箱 品牌归属：Keithley 吉时利（现泰克 Tektronix 旗下） 产品状态：停产，二手流通主流模块 区分对比：4200-SMU（中功率 100mA）；4210-SMU（高功率 1A） 二、核心电气参数 输出范围：±210 V，±100 mA，最大功率 2.1 W，四象限工作 分辨率 电压：0.1 μV 基础电流：100 fA；搭配4200-PA 前置放大器可达 10 aA 连接方式：支持开尔文四线法（Force / Sense） 接口：迷你三同轴屏蔽接口，抑制漏电流干扰 测量模式：I-V 线性 / 对数扫描、列表扫描、恒定电压 / 电流输出 三、功能特性 集成电压源、电流源、电压表、电流表一体；同步激励与采集 专为半导体微弱漏电测试优化，内置有源保护屏蔽 模块热插拔，一台 4200 主机最多搭载 9 张 SMU 模块 可配合 KITE 测试软件自动输出 I-V 特性曲线 支持电压 / 电流限值保护，防止被测器件击穿损坏 可与探针台联动，实现晶圆自动化测试 四、典型应用场景 MOSFET、二极管、BJT 晶体管直流 I-V 特性测试 栅极漏电流、绝缘介质高阻漏电测量 光电探测器、传感器、MEMS 器件电学表征 存储器、薄膜材料、二维新材料科研测试 半导体晶圆探针台量产电学筛选
是德科技 M9505A AXIe 5 插槽机箱
一、基础参数 型号：M9505A 规格：AXIe 1.0 标准、4U 高度、5 个仪器插槽 系统模块：内置 ESM 嵌入式系统模块（不占用仪器槽位） 二、接口配置 标配：PCIe Gen2 x8、千兆网口、触发 / 时钟、多帧同步 带 U20 选件：前置 USB2.0 接口（即你所说 USB 卡 / USB 功能） 供电散热：整机 1000W 功率，单槽最大支持 200W 功耗 三、总线带宽 主机↔机箱：最高 4GB/s 机箱槽位：PCIe Gen2 x4，单槽 2GB/s 安装方式：台式放置 + 可选 Y1226A 机架安装套件 重点说明（USB 相关） 机箱前面板 USB 端口为 Option U20 选件，不是独立插卡，是 ESM 系统模块自带 USB 功能；市面俗称 “带 USB 卡版本”。 USB2.0 仅用于简易控制，大数据传输优先使用 PCIe 接口。
安捷伦 86140B 光谱分析仪
一、基础信息 型号：86140B 设备类型：台式光学光谱分析仪（OSA） 品牌归属：Agilent 安捷伦（现归属是德科技 Keysight） 产品状态：经典停产机型，光通信行业常见二手设备 用途：分析光信号光谱特征，测量波长、光功率、谱宽、SMSR 等参数，用于激光器、光无源器件、光模块研发与检测 二、核心电气参数 波长范围：600 nm～1700 nm，覆盖可见光、S/C/L 通信波段 波长精度：±20 pm；波长重复性 ±0.005 nm 可调分辨率带宽：0.06 nm～2 nm 动态范围：典型 60 dB（0.1nm RBW） 输入接口：单模光纤输入接口 通讯接口：GPIB、LAN，支持 SCPI 远程程控 注意事项：严禁输入超过额定光功率，避免烧毁探测器；光纤端面保持清洁，减小端面反射造成测量误差 三、功能特性 自动测试峰值波长、光功率、边模抑制比 SMSR、3dB/20dB 光谱宽度 具备连续扫描、零跨度实时监测模式 兼容 CW 激光器、脉冲光信号测量 图形化光谱曲线显示，支持波形与测量数据保存导出 支持本地面板操作以及上位机远程自动测试，便于集成 ATE 测试系统 内置多种光通信器件标准测量程序 四、典型应用场景 DFB 激光器、FP 激光器光谱指标测试 WDM 复用 / 解复用器件、光滤波器性能测试 光发射组件 TOSA 性能检测 光纤通信器件来料检验与实验室研发 光纤传感、光学无源器件表征测试
VIAVI(VIAVI) MTS5800-100G 网络测试仪
一、基础信息 型号：MTS5800-100G（T-BERD/MTS 5800 平台） 设备类型：手持式双端口 100G 多业务网络测试仪 品牌归属：VIAVI（唯亚威，原 JDSU） 产品状态：现役主流高端现场测试设备，广泛应用于通信现场工程 用途：以太网、OTN、光纤通道、5G 前传、同步时钟等多业务开通、验收、故障排查，覆盖数据中心、城域网、基站传输测试 二、核心电气参数 端口规格：双端口 100G，支持 QSFP+/QSFP28/CFP4、SFP/SFP+/SFP28 光模块 支持速率：10M～100GE、OTU1~OTU4、FC 光纤通道、CPRI/eCPRI、SONET/SDH 以太网测试标准：RFC2544、Y.1564、SAMComplete、RFC6349 TrueSpeed 吞吐量测试 同步测试：支持 1588v2 PTP、SyncE 同步测量，时延、抖动、漂移分析 附加能力：可选配 OTDR、光功率计、光纤端面检测模块 人机交互：多点触控显示屏，支持电池 / 交流双供电，工业防护便携机身 通讯接口：LAN、USB、蓝牙，支持 SCPI 远程程控 注意事项：选用合规光模块，禁止超功率光信号输入；户外使用做好防尘防震 三、功能特性 一机兼容以太网、OTN、存储光纤通道、5G 前传多制式业务测试 支持线速流量产生、误码测试、时延 / 抖动 / 丢包测量、线速抓包与协议解码 内置自动化测试流程，自动输出 PASS/FAIL 判定与标准化测试报告 集成光层 + 电层测试能力，无需多台仪器即可完成链路完整验收 支持业务仿真、流量模型自定义，模拟真实网络负载场景 搭载 StrataSync 云管理，实现设备配置同步、远程升级、测试数据统一管理 脚本化测试流程，适配运营商批量开通验收与自动化运维场景 四、典型应用场景 数据中心 100G/40G 互联链路验收与故障排查 城域网、骨干网 OTN 传输工程开通测试 5G 基站 CPRI/eCPRI 前传链路验证 政企专线、以太网业务交付验收 存储网络光纤通道 FC 设备调试 同步时钟网络（PTP/SyncE）性能标定 海底光缆、长途传输链路现场维护检测
圣德科 TSL-550 可调谐激光器
一、基础信息 型号：TSL-550，波段规格 1500-1630-C（Type C 高精度版本） 设备类型：外腔半导体窄线宽连续可调谐激光器 品牌归属：Santec 圣德科（日本） 产品状态：经典商用 C/L 波段可调谐光源，实验室与产线广泛使用，二手流通量大 用途：输出高精度单波长连续激光，用于光无源器件、硅光子芯片、光纤通信器件光谱与损耗自动化测试 二、核心光学参数 调谐波段：1500 nm～1630 nm（C/L 波段） 机型等级：Type C 高精度机型，波长绝对精度 ±5 pm 波长设置分辨率：0.1 pm 波长重复性：典型 ±1 pm 扫描速度：1～100 nm/s，支持全波段无跳模连续扫描 输出光功率：波段内≥+10 dBm，峰值最高可达 + 13 dBm 光谱指标：SMSR 边模抑制比≥90 dB（0.1nm），低 RIN 相对强度噪声 光纤输出：可选单模光纤 / 保偏光纤，FC/APC 接头 通讯接口：GPIB、USB、RS232，兼容 SCPI 程控指令 注意事项：禁止强光反射回激光器损伤腔内元件；保持光纤端面洁净，避免过度弯折光纤 三、功能特性 全波段无跳模连续扫描，适配波长相关损耗 WDL、PDL 偏振相关损耗自动测试 内置相干控制功能，可优化激光线宽，适配干涉类精密光学实验 功率闭环稳定控制，波长扫描过程输出功率波动极小 支持定点波长输出、步进扫描、连续扫描多种工作模式 前面板本地触控操作，配套上位机控制软件，可集成自动化 ATE 测试系统 低自发辐射噪声，适合高动态范围无源器件高精度测量 可搭配光功率计、偏振控制器组成一体化器件测试平台 四、典型应用场景 DWDM 复用器、光滤波器、耦合器、隔离器无源器件测试 硅光子波导、微环谐振器、集成光子芯片光学表征 光纤光栅、干涉光学系统、相干光通信相关实验 光放大器增益谱、噪声系数测试 光器件来料检测、实验室科研光谱测量
安捷伦 81619A 接口模块
一、基础信息 型号：81619A 设备类型：插入式双通道光探头接口模块 品牌归属：Agilent 安捷伦（现归属是德科技 Keysight） 产品状态：停产机型，光波测试平台配套二手模块 适配主机：8163A/B、8164A/B、8166A/B 光波测量主机 配套探头：兼容全系 8162x 系列外置光功率探头（81620B/81623B/81624B/81626B/81628B） 重要说明：模块无法独立工作，仅作为主机与外置光探头之间的信号转接单元，本身不带光电探测器 用途：扩展双路外置光探头采集通道，实现两路光信号同步光功率测量，用于光无源器件插损、分光比自动化测试 二、核心参数 通道配置：双通道独立接口（Head1 / Head2） 连接接口：专用圆形多芯接口，匹配 8162x 光探头线缆 测量能力：测量范围、波长区间由外接光探头规格决定；覆盖 450nm～1700nm 通信波段 测量精度：信号传输低损耗，保障探头原始测量精度 同步机制：支持双通道同步触发采集 控制方式：由光波主机统一控制，主机通过 GPIB/LAN 实现远程程控 注意事项：插拔探头避免大力扭转接口；线缆不要过度弯折；区分 81618A（单通道）与 81619A（双通道） 三、功能特性 实现光波主机与两支外置光功率探头信号互联，支持双通道并行同步测量 相比单通道 81618A，适合双端口器件同时监测输入、输出光功率 支持探头远程放置，灵活适配狭小光路、探针台、集成光子芯片测试环境 主机上电自动识别模块与探头，即插即用，无需复杂配置 兼容连续光、扫描波长模式下的同步功率采集，适配波长相关损耗 WDL 测试 可多模块混插主机插槽，灵活扩展多路外置光探头测试系统 配套自动化测试软件，可自动记录两路功率、计算损耗、分光比值 四、典型应用场景 光耦合器、WDM 复用 / 解复用器分光比测试 光纤滤波器、环形器、隔离器插入损耗测量 硅光子、集成光波导双端口器件自动化表征 EDFA 光放大器输入输出功率同步监测 光纤链路损耗、无源器件来料批量质检 搭配可调谐激光器搭建自动化光器件测试平台
惠普(HP) 34420A 纳伏微欧表
一、基础信息 型号：34420A（早期 HP 惠普标识，后期归属 Agilent 安捷伦、现 Keysight 是德科技） 设备类型：7½ 位高灵敏度纳伏表 / 微欧表（微弱信号精密测量仪器） 产品状态：经典停产台式仪器，材料电学、半导体实验室主流二手设备 用途：测量纳伏级微弱直流电压、微欧级低阻值电阻，支持精密温度采集；专门解决极低电平信号测量难题，弥补普通数字万用表灵敏度不足的短板 二、核心电气参数 测量分辨率：直流电压最低 0.1 nV；电阻最低 0.1 μΩ 测量量程 直流电压：100 nV～100 V 电阻：10 μΩ～1 MΩ 通道配置：双独立低噪声输入通道，支持差值、比值运算 本底噪声：典型 8 nVpp，低热电动势输入端子 电阻测量模式：两线法、四线开尔文法；支持干电路低压测试模式 测温功能：兼容热电偶、RTD、热敏电阻、SPRT 标准铂电阻 通讯接口：标配 GPIB (HP-IB)、RS232，支持 SCPI 指令，兼容 Keithley 181 指令集 采样速率：最高 250 读数 / 秒 注意事项：做好输入屏蔽降低干扰；避免输入端过压冲击；尽量使用低热电动势测试线缆减小测量误差 三、功能特性 双通道同步采集，可直接测量两路电压差值、比值，无需外部切换单元 内置模拟滤波、数字移动平均滤波，灵活平衡测量速度与噪声抑制 电阻测量支持偏移补偿功能，消除引线热电势带来的测量偏差 干电路模式适合接触电阻、薄膜器件测量，防止被测样品发生电化腐蚀 内置多种数学运算：平均值、峰峰值、缩放、归零、极限报警 真空荧光显示屏，实验室环境清晰可视；前面板按键便捷手动操作 适配自动化测试系统，可搭配探针台、高低温试验箱完成长期监测 低热电动势铜质输入连接器，最大限度降低引线接触产生的电压误差 四、典型应用场景 金属导体、导线、焊点微欧级接触电阻测试 热电材料塞贝克系数、微弱热电电压测量 超导样品、低阻薄膜材料电学特性表征 传感器、应变片微小输出电压采集 继电器、开关触点导通电阻检测 半导体器件、绝缘材料微弱漏电相关辅助测试 计量实验室精密温度标定、铂电阻测温系统搭建 材料科研高低温环境下电阻连续监测
