NI PXle-4141 源测量模块

一、基础信息 型号：PXIe-4141 品牌归属：NI（National Instruments 美国国家仪器） 设备类型：4 通道精密 PXIe 源测量单元（SMU，Source Measure Unit） 归类：PXIe 总线模块化源测量仪器（插卡式模块，不能独立工作，必须搭配 PXIe 机箱 + 控制器使用） 用途：集成精密电压 / 电流源与同步测量功能，支持四象限工作，可同时输出激励并采集被测器件电压、电流，快速完成 I-V 特性扫描；内置四线远程传感，消除引线电阻误差，适合多通道半导体、传感器、光电器件静态 / 瞬态电性能测试。 二、核心硬件参数 通道数量：4 路独立 SMU 通道 电压范围：±10 V 电流范围：±100 mA 单通道最大直流功率：源出 1W / 吸收 1W 电流测量灵敏度：10 pA 工作模式：四象限（可供电、可吸收电流） 测量方案：内置 4 线远程感应（Remote Sense） 技术特色：SourceAdapt 负载自适应技术，优化瞬态响应与稳定性 采样速率：高速采集，支持瞬态特性捕捉 总线标准：PXI Express，支持多模块硬件同步触发 接口：高密度 D-Sub 连接器，引出 HI/LO/Sense 感应端口 三、功能特性 四通道独立可控，支持并行测试，大幅提升多引脚器件测试效率 四象限双向工作，既能输出激励，也能吸收被测器件回馈电流 四线制测量，规避测试线缆压降，实现高精度小信号测量 SourceAdapt 自适应负载调节，抑制振荡，优化测量稳定性 硬件时序引擎，多模块纳秒级同步，可与开关、数字 IO、示波器协同搭建综合测试系统 配套 LabVIEW、Python、C 语言驱动，易于搭建自动化测试方案 内置过压、过流保护，防止静电与误操作损坏被测芯片 四、典型应用场景 二极管、MOS 管、三极管等分立半导体 I-V 特性测试 MEMS 传感器、光电探测器、硅光芯片静态电学表征 IC 芯片开路短路测试、功耗测试、阈值电压扫描 微型光伏器件、电池材料特性研究 多通道并行自动化芯片量产测试系统搭建